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標題: T/R組件自動測試系統 [打印本頁]

作者: Acery 時間: 2015-1-5 15:16
標題: T/R組件自動測試系統
系統概述

T/R組件是相控陣雷達的關鍵部分，它的性能會對整個雷達系統的性能產生直接和關鍵性的影響，如雷達發射信號的波束成形、測向精度及系統穩定性等。

T/R組件是包含了微波開關、功率放大器、低噪聲放大器、移相器、電源、饋電網絡等部分的復雜電路系統。從技術層面上說，它覆蓋微波電路、數字控制電路諸多方面。高性能 T/R組件對電路器件的性能參數、機械結構、電磁兼容性能、穩定性都有很高要求。當前，對 T/R組件的測試也從原先的手工測試，步入到了半自動、自動測試。

系統特點

克服了T/R組件測試中的技術難題

脈沖網絡儀用于T/R組件測試時，需要解決諸多問題: 比如開關視頻饋通干擾、外置處理電路帶來的功率補償、功率修正、互連穩定等，并且在脈沖狀態下進行校準會引入新的測試誤差。

是德 PNA-X 采用最新X 參數測量技術，可以完成脈沖狀態下 X 參數校準，從而使參數的測量穩定性和精度都有保證。采用選件008，還可以實現窄脈沖下的 X 參數測試。除了 X 參數，其它參數的測量還需要對開關矩陣進行控制、對系統的損耗進行補償。

實現了收發組態的控制, 以及與射頻測試的同步

T/R組件自動測試系統提供64路的數字IO，用于控制測試期間的相位和增益，同時也提高多達4路的脈沖同步(支持內部觸發及外部觸發)信號。控制信號可以任意連接，輸出采用78Pin分配接口或數字IO連接盒。

測試速度快、精度高

由于T/R組件電路復雜，相位以及增益狀態多(采用5位移相器和5位衰減器時總有 1024 種狀態)。傳統測試需要使用手動撥開關來轉換不同的狀態，并根據儀器的測試結果來記錄數據；在測量多個模塊后，根據記錄結果做幅相一致性比較。整個過程耗時巨大并且容易出錯。

T/R組件自動測試系統通過簡單的設置就可以自動切換不同的狀態，從而實現 T/R 組件的快速測試，并保存各個測試結果。內置的數據管理和分析功能可以對同種類型的組件做幅相一致性比較分析。

系統組成

N5244A	脈沖矢量網絡分析儀， 43.5 GHz
M9370A	網絡分析儀
M9375A	網絡分析儀
N4692A	ECal電子校準件
E8267D	信號源， 44 GHz
N5183A	微波模擬信號發生器
N5182A	射頻矢量信號發生器
M9381A	矢量信號發生器
M9380A	模擬信號發生器
E4447A	頻譜分析儀， 42.98 GHz
N9010A	信號分析儀
N9030A	信號分析儀
M9290A	信號分析儀
N1911A	脈沖功率計， 40 GHz
N1913A	功率計
N1921A	功率傳感器
N848XA	功率傳感器
DSO91304A	示波器，帶寬 13 GHz，采樣率 40 GSa/S
N670X	電源，輸出功率 50 W ~ 400 W 可選
85332B	開關等微波附件
8765B	SPDT開關
87104B	SP4T開關
87106B	SP6T開關
89601B	矢量信號分析軟件
N8975A	噪聲系數表
R347B	波導噪聲源
N4002A	智能噪聲源
E5052B	信號源分析儀

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