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標題: 如何使用網絡分析儀進行S參數測量 [打印本頁]

作者: jhonlinken    時間: 2020-3-6 16:09
標題: 如何使用網絡分析儀進行S參數測量
S參數即散射參數S參數描述了傳輸通道的頻域特性,在進行串行鏈路SI分析的時候,獲得通道的準確S參數是一個很重要的環節,通過S參數,我們能看到傳輸通道的幾乎全部特性。無源網絡如電阻、電感、電容、連接器、電纜、PCB線等在高頻下會呈現射頻、微波方面的特性。S參數是表征無源網絡特性的一種模型,在仿真中即用S參數來代表無源網絡,在射頻、微波和信號完整性領域的應用都很廣泛
S參數的測量方法有兩種,一種是基于快沿階躍響應的原理(TDR),另外一種是基于掃頻測量的原理(VNA),以二端口網絡分析儀測量為例:
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S11表示在port 1量反射損失(return loss),主要是觀測發送端看到多大的的訊號反射成份;值越接近0越好,表示傳遞過程反射(reflection)越小,也稱為輸入反射系數(Input Reflection Coefficient)。
S21表示訊號從port 1傳遞到port 2過程的饋入損失(insertion loss),主要是觀測接收端的訊號剩多少;值越接近1越好(0dB),表示傳遞過程損失(loss)越小,也稱為順向穿透系數(Forward Transmission Coefficient)。
理論上來說,任何信號在時域和頻域上是一一對應的,而且是可以相互轉換的。這為基于階躍響應的時域TDR/TDT方法測量S參數提供了可能。VNA的測量過程中會產生六大系統誤差:(1)與信號泄露相關的方向誤差;(2)與信號泄露相關的串擾誤差; (3)與反射相關的源失配;(4)與反射相關的負載阻抗失配; (5)由測試接收機內部的反射引起的頻率響應誤差; (6)由測試接收機內部的傳輸跟蹤引起的頻率響應誤差。 因此在使用前需要進行嚴格的校準。
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