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標(biāo)題: 泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器 [打印本頁]
作者: fujitai 時間: 2025-5-28 17:59
標(biāo)題: 泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器
泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器主要特點(diǎn)
獨(dú)立采樣器偏移校正技術(shù)保證簡便地反嵌夾具和探頭
雙通道（80E11X1 除外）
精密微波連接器（3.5 mm、2.92 mm、2.4 mm 和 1.85 mm）
探頭支持
泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器應(yīng)用
適用于串行數(shù)據(jù)應(yīng)用的阻抗檢定和 S 參數(shù)測量
高級抖動、噪聲和 BER 分析
通道和眼圖仿真及基于測量的 SPICE 模型
泰克80E04B/80E06B雙通道采樣模塊搭配示波器
80E10B、80E08B 和 80E04 是雙通道時域反射計 (TDR) 采樣模塊，其中，80E10B 最多可提供 12 ps 入射上升時間和 15 ps 反射上升時間（80E08B 最多可提供 18 ps 入射上升時間，80E04 最多可提供 23 ps 入射上升時間）。這些模塊的每條通道都可以產(chǎn)生可在 TDR 模式下使用的快速階躍，而且，采樣模塊的采集部分會監(jiān)測入射階躍和任何反射能量。可獨(dú)立選擇每條通道階躍的極性。這允許在對隔離線進(jìn)行獨(dú)立測試的同時，對兩條耦合線進(jìn)行差分或共模 TDR 測試或 S 參數(shù)測試。每條通道獨(dú)立產(chǎn)生階躍實(shí)現(xiàn)了真正差分測量，從而確保了差動設(shè)備的測量精度。
80E10B 和 80E08B 是小型、全面集成的獨(dú)立 2 米遠(yuǎn)程采樣器系統(tǒng)，使得采樣器可放置在 DUT 附近，并確保最佳信號保真度。這兩個模塊通過使用 TDR 階躍驅(qū)動一條線來檢定串?dāng)_（或者使用一個線對來檢定差分串?dāng)_），同時使用另一條通道來監(jiān)測另一條線（或另一個線對）（或者使用另一個模塊來檢定差分串?dāng)_）。8000 系列主機(jī)的“濾波器”功能可與 TDR 測量或串?dāng)_測量配合使用，以檢定邊沿速率較慢的預(yù)期系統(tǒng)性能。
所有模塊都有獨(dú)立的入射階躍和接收器相差校正功能，可消除測量夾具和探頭的影響，從而實(shí)現(xiàn)更快速、更簡便的測試夾具反嵌。80E10B 采樣模塊的采集上升時間為 7 ps，可選等效帶寬最高為 50 GHz（有 50 GHz、40 GHz 和 30 GHz 三種設(shè)置可供選擇）。80E08B 的采樣帶寬為 30 GHz（用戶可選擇 30 GHz 或 20 GHz），80E04 的采樣帶寬為 20 GHz。20 GHz P8018 單端 TDR 探頭和 18 GHz P80318 差分變量點(diǎn)距 TDR 探頭具有出色的性能和兼容性，實(shí)現(xiàn)了輕松而精確的背板和封裝測量。
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