美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱NI）于2012年11月23日參加了由工業(yè)和信息化部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合舉辦的2012 TD-LTE測試技術(shù)研討會。NI在此研討會上發(fā)表了題為＂重新定義移動通信測試——從研發(fā)驗證到制造測試＂的精彩演講，演講人NI中國無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏被評為＂企業(yè)演講最佳演講人＂。
NI中國無線通信行業(yè)市場經(jīng)理湯敏正在進行演講 在演講中湯敏為到場嘉賓介紹了NI是如何通過為無線通信領(lǐng)域的工程師和科學(xué)家提供豐富的軟硬件工具從而提高測試效率、加速設(shè)計創(chuàng)新。NI的無線通信測試方案，采用以軟件為中心的模塊化射頻儀器構(gòu)架，基于現(xiàn)成可用的模塊化硬件設(shè)備，通過豐富的射頻與無線工具包以及IP共享，從TD-LTE到最新的802.11ac，工程師可快速實現(xiàn)從研發(fā)驗證到生產(chǎn)測試的一體化流程：對于研發(fā)驗證，通過提供基于軟件無線電架構(gòu)的開放式測試驗證平臺， 助力企業(yè)和研究院所的自主創(chuàng)新和自主知識產(chǎn)權(quán)；對于制造測試，通過提供高速并行式產(chǎn)線測試平臺 ，為企業(yè)提供高性價比的一站式測試解決方案 。 NI還在現(xiàn)場設(shè)置了展臺，向到場的嘉賓展示了NI在無線通信領(lǐng)域的最新產(chǎn)品和技術(shù)，其中包括業(yè)界首款矢量信號收發(fā)儀（VST），它在單個PXI模塊化儀器中，結(jié)合了矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器與用戶可編程的FPGA模塊。對于射頻領(lǐng)域來說，它可以進行多協(xié)議多終端并行測試，方便地實現(xiàn)了單套測試系統(tǒng)并行測試四個待測終端，具體包括GSM的校準與綜測、WCDMA的校準與綜測、WiFi測試、Bluetooth測試以及GPS測試等，為進一步提升測試效率降低測試成本提供了一站式解決方案。
與會嘉賓在參觀NI的展臺 測試技術(shù)是TD-LTE發(fā)展產(chǎn)業(yè)鏈上十分關(guān)鍵的一環(huán)，未來TD-LTE產(chǎn)業(yè)將面對多模多頻的終端發(fā)展方向以及移動互聯(lián)網(wǎng)時代復(fù)雜的網(wǎng)絡(luò)環(huán)境，而未來商用智能終端尤其是TD-LTE終端的最大消費和生產(chǎn)國是中國，這對今天的測試技術(shù)、測試儀器提出了巨大挑戰(zhàn)。NI希望能抓住此機遇，為研發(fā)驗證及制造測試的工程師們提供一個統(tǒng)一的平臺，幫助他們降低測試成本，從而提高產(chǎn)品的市場競爭力，來為整個TD-LTE產(chǎn)業(yè)發(fā)展做好鋪墊。 預(yù)了解更多有關(guān)NI在移動通信測試設(shè)備方面的信息，請訪問http://www.ni.com/mobiledevicetest/zhs/。 |
