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模擬和數(shù)字技術(shù)的進(jìn)步，消費(fèi)者對(duì)更好性能和更高質(zhì)量的儀表的需求對(duì)研究、開(kāi)發(fā)和測(cè)試工程師提出了新的挑戰(zhàn)。當(dāng)今的工程師正在采用精密元件和復(fù)雜的電路設(shè)計(jì)出具有更嚴(yán)格容差的電路，以確保獲得最佳的性能和平均無(wú)故障時(shí)間（MTBF）。 像短期穩(wěn)定度、漂移和波動(dòng)這樣的技術(shù)數(shù)據(jù)是研究各種受控或非受控電路所必需的關(guān)鍵變量。在有些情況下，為了診斷設(shè)備故障，工程師會(huì)需要查找一些難以捕獲的故障，例如間歇性信號(hào)中斷或毛刺。 當(dāng)需要測(cè)量這些參數(shù)時(shí)，工程師就可能不得不搜羅多臺(tái)儀器，并編寫(xiě)自定義的軟件程序，以便捕獲和分析數(shù)以千計(jì)的測(cè)量數(shù)據(jù)點(diǎn)。 下載： 
數(shù)字表趨勢(shì)繪圖功能的應(yīng)用.pdf
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