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電子控制與電子功率轉換在各行業(如發電、工業馬達驅動與控制、運輸及IT) 發展迅速，正推動著功率半導體器件設計與測試的增長。為了證明技術改進，必須對新器件與現有器件能力進行對比。非硅半導體材料的使用需要采用新工藝，而且，為了可持續發展，這些新工藝必須能夠交付已知的結果，并具有高產量。隨著新器件設計的發展，必須對諸多器件進行更長周期的可靠性測試。因此，測試工程師必須找到具有高精度、可擴展和高費效比的測試設備。 功率模塊設計工程師——分布式功率半導體器件用戶——正致力于半導體器件測試工作。為了開發DC-DC轉換器、逆變器、LED控制器、電池管理芯片以及諸多其他器件，他們在設計中采用分立半導體器件。為了實現更高的電源效率，他們必須對來自供應商的器件進行質量檢驗，確保其符合應用環境的要求，并預測器件對功率模塊效率的影響，最后驗證最終產品的性能。 吉時利源測量單元（SMU）儀器，可為器件測試工程師及功率模塊設計工程師提供測量所需的工具。不論他們對曲線跟蹤儀、半導體參數分析儀或示波器是否熟悉，都能簡單而迅速地得到精確的結果。本應用筆記介紹了某些最常見的測試、相關挑戰以及吉時利源測量單元（SMU）儀器怎樣簡化測量流程，特別是與吉時利參數曲線跟蹤儀配置進行集成時。 下載： 
HiPowerDeviceTest SMUInsrmts_AppNote - CN.pdf
(1.07 MB)
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