利用6517A型靜電計/高阻表對惰性氣體或高真空中的小型晶體進行高值電阻測量

發布時間：2014-2-27 11:25 發布者：eechina

晶體材料是現代電子和光電子技術的基礎。因此，這些材料的電子特性，如(各向異性) 電導率和光電導率以及與這些特性有關的
溫度依存性，都是研究人員關注的問題。采用大量結晶技術的晶體生長尺寸可能不大，但往往表現出極高的電阻。這個應用筆記說明如何利用專門設計的測量室和分子束沉積(MBD)系統（在晶體或薄膜生長過程中對其進行現場測量）來測量高達1017Ω的電阻。

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