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一種數(shù)字控制的三相移相觸發(fā)電路設(shè)計(jì)

發(fā)布時間:2010-8-16 11:48    發(fā)布者:lavida
1 概述  

目前,我國的可控硅觸發(fā)電路分為三類:第一類是模擬型。該類型是80年代初出現(xiàn)的專用集成觸發(fā)電路產(chǎn)品,此類可控硅觸發(fā)電路易受元件參數(shù)分散性、同步電壓波形畸變、溫度變化等因數(shù)影響,電路較為復(fù)雜,可靠性低,抗干擾性差,而且輸出不穩(wěn)定,裝置功率大等缺點(diǎn);第二類是可編程數(shù)字型。此類型采用單片機(jī)CPLD等設(shè)計(jì),采用編程設(shè)置同步和移相.但該類型觸發(fā)電路具有電路規(guī)模較大,技術(shù)要求高,軟件抗干擾能力差等缺點(diǎn),而且不易實(shí)現(xiàn)小型化、小量產(chǎn),限制了其廣泛應(yīng)用;第三類是采用數(shù)字移相的集成電路。該類觸發(fā)電路克服了以上兩類的一些缺點(diǎn),大大提高了移相精度和對稱度,且易于控制,提高電路的穩(wěn)定性和可靠性。這里給出一款用于可控硅的集成電路數(shù)字控制的三相移相觸發(fā)電路。針對點(diǎn)電網(wǎng)及現(xiàn)場出現(xiàn)的噪聲干擾問題,提出一種去抖動電路設(shè)計(jì)方案.闡述了移相電路的基本設(shè)計(jì)思路。  

2 電路設(shè)計(jì)  

2.1 電路框架  

三相正弦輸入(ACl~AC3)經(jīng)比較器,轉(zhuǎn)換成與輸入同步的方波信號,再經(jīng)去抖動電路消除輸入信號噪聲,生成干凈的同步方波信號,進(jìn)入移相電路。移相控制信號由外部電壓輸入提供,移相控制電壓經(jīng)9 bit A/D轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換,作為移相電路中計(jì)數(shù)器的初始值,當(dāng)計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)滿時,產(chǎn)生一個移相脈沖,該移相脈沖再次觸發(fā)脈寬發(fā)生電路,產(chǎn)生所需的脈寬信號,經(jīng)調(diào)制后輸出。該電路框圖如圖1所示。表1給出了各引腳功能說明。  




  
2.2 噪聲消除電路  

圖2是去抖動電路。三相交流電同步信號經(jīng)比較器后,通過觸發(fā)器使其與內(nèi)部時鐘同步,同步信號a.b和c分別對應(yīng)圖3中的/net63./net58和/net43,可見這3個信號的上升沿和下降沿都具有毛刺抖動信號。圖2中的電路A部分是邊沿檢測電路,其功能是利用a,b和c所有上升沿和下降沿產(chǎn)生小脈沖。電路A部分的輸出作為時鐘信號進(jìn)入電路B,實(shí)現(xiàn)去抖動電路。當(dāng)?shù)谝粋脈沖到來時,觸發(fā)器輸出高電平,同時啟動電阻電容的充電電路,電容充電,當(dāng)充電達(dá)到使其后面的反相器翻轉(zhuǎn),觸發(fā)器復(fù)位,觸發(fā)器輸出低電平。電容充電波形如圖3中的/net90,觸發(fā)器輸出信號波形為/net52。再利用該輸出信號作為時鐘信號對同步信號a,b和c采樣,濾除信號中的所有毛刺抖動成分,最終輸出信號為/out3,/out2和/out1。  





  
2.3 移相電路  

移相電路是數(shù)字三相移相觸發(fā)電路的主要部分。其原理如圖4所示,同步信號、正弦信號通過過零比較器變?yōu)橄辔慌c周期一致的同步方波,上升沿和下降沿檢驗(yàn)電路檢驗(yàn)出同步方波的上升沿和下降沿,產(chǎn)生的兩個尖脈沖分別對應(yīng)同步信號正負(fù)半周的的觸發(fā)信號。采用該觸發(fā)信號啟動計(jì)數(shù)器進(jìn)行減法計(jì)數(shù),A/D轉(zhuǎn)換器輸出置為計(jì)數(shù)器的初值,當(dāng)減法計(jì)數(shù)器為零時則產(chǎn)生移相后的尖脈沖,減法計(jì)數(shù)器的啟動和停止脈沖之間的相位差,即對應(yīng)于脈沖群與正弦波之間的相位差△φ。  





  
2.4 A/D轉(zhuǎn)換電路  

考慮到設(shè)計(jì)要求,由于處理時鐘頻率不高,因此采用中速逐次逼近式A/D轉(zhuǎn)換器,其工作原理如圖5所示,包含比較器、D/A轉(zhuǎn)換器、寄存器、時鐘信號源和控制邏輯等5部分。  


  
轉(zhuǎn)換周期從采樣所需轉(zhuǎn)換的輸入模擬信號開始。數(shù)字控制邏輯電路假設(shè)MSB為1,其他所有碼元為0。將此數(shù)字字作為分壓電阻網(wǎng)絡(luò)的輸入,產(chǎn)生0.5UREF的模擬信號,如圖6所示。比較該模擬信號和采樣模擬信號。如果比較器輸出高電平,數(shù)字控制邏輯電路則令MSB為1;如果輸出低電平,則MSB為0。這樣實(shí)現(xiàn)逐次逼近的第一步.并確定MSB值。然后猜想次高位為1,其余位為0,并和已知數(shù)值的MSB位組成數(shù)字量,輸入分壓電阻網(wǎng)絡(luò)。再比較分壓電阻網(wǎng)絡(luò)輸出和采樣輸入信號,如果比較器輸出高電平,則次高位為1;反之則為0。直到所有數(shù)字量的位在逐次逼近中確定為止。  


  
2.5 電路布局  

移相觸發(fā)集成電路采用1.2μm N阱雙層多晶單層金屬CMOS集成電路設(shè)計(jì)規(guī)則設(shè)計(jì)電路布局.采用全定制的布局設(shè)計(jì)方法.其特點(diǎn)是針對每個晶體管優(yōu)化電路參數(shù)和布局以獲得最佳性能以及最小面積。布局設(shè)計(jì)需解決的關(guān)鍵問題是減少襯底耦合噪聲的影響,可通過以下途徑解決:  

(1)阱隔離環(huán)低摻雜的襯底中,物理隔離通過增加注入孔和感應(yīng)孔間的距離來增加兩者間的電阻,增強(qiáng)隔離效果。  

(2)用P+擴(kuò)散層形成隔離 P+擴(kuò)散層通過吸收數(shù)字器件注入襯底的噪聲電流達(dá)到隔離效果,隔離環(huán)用于包圍數(shù)字電路或者是模擬電路。從另一個角度看,引入了P+隔離環(huán)后,減少環(huán)內(nèi)的那部分襯底區(qū)域到地的電阻,也相應(yīng)減小該區(qū)域受到的耦合噪聲干擾。  

(3)數(shù)字電路地與襯底分離 將數(shù)字電路的N管的源極通過Metal接地,而不與襯底相連。襯底為模擬地,因此通過這種措施將模擬電路和數(shù)字電路地分開.模擬和數(shù)字電路通過地線耦合抑制噪聲。  

2.6 仿真結(jié)果  

仿真結(jié)果如圖7所示,輸入為三相正弦信號,輸出為6路移相觸發(fā)脈沖。  


  
3 測試結(jié)果  

圖8給出該系統(tǒng)測試結(jié)果。其中,其基本電參數(shù)測試結(jié)果如下:靜態(tài)電源電流IDO25 mA,輸出驅(qū)動電流IOH1(VOH=4 V)3 mA,高阻態(tài)漏電流IOZ。  


  
4 結(jié)語  

設(shè)計(jì)了一款用于可控硅控制的三相移相觸發(fā)電路。針對點(diǎn)電網(wǎng)及現(xiàn)場出現(xiàn)的問題,提出了一種去抖動電路解決方案,給出了移相電路的基本設(shè)計(jì)思路。通過仿真和實(shí)際測試.該電路的移相范圍達(dá)到178°,移相精度為0.35°/mV。該電路采用數(shù)字控制方式,使得移相精度和對稱度大大提高,且控制方便,提高了電路的穩(wěn)定性和可靠性,并克服以往電路精度差、可靠性低以及技術(shù)復(fù)雜等缺點(diǎn)。
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