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簡易晶振測試電路

發布時間:2011-2-16 15:32    發布者:circuit_share
關鍵詞: 測試電路 , 晶振
本文介紹一款簡單易作的晶振測試裝置,原理電路如附圖所示。 圖中,V1及其外圍元件(包括被測晶振)共同組成一個電容三點式振蕩器。當探頭X1、X2兩端接入被測晶振時,電路振蕩。振蕩信號經V2射極跟隨級放大后輸出,經C4耦合、D1、D2倍壓整流后為V3提供偏置電流,V3導通,LED發光。若晶振不良或斷路,電路則不能起振,因而LED不發光。 該裝置結構簡單,所用元件極為普遍,而且只要元件質量良好,裝配無誤,不需調試即可一次成功。探頭可利用兩個插孔代替。也可以選用帶電纜的表筆或測試棒,但引線不宜過長。該測試議可測試頻率為450KHz~49MHz的各種晶振,工作電源推薦采用6V疊層電池。

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