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美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）近日發布了《2011自動化測試技術展望》，就影響測試測量的技術與方法發表了研究結果。該報告所闡述的發展趨勢覆蓋了消費電子、汽車、半導體、航空航天、醫療設備和通信等眾多產業，幫助工程師和企業管理人員利用最新策略和最佳實踐案例，優化測試組織架構。 《2011自動化測試技術展望》以學術和工業研究、網上論壇、問卷調查、商業咨詢、客戶反饋等多種形式廣泛進行調查，提出了下一代測試測量行業的發展趨勢，以應對該行業所存在的商業與技術挑戰。報告從四個方面進行了闡述： -- 測試資源整合：將設計驗證和生產測試的資源整合在一起，需要重視人力資源、流程控制和技術等方面的革新。 -- 系統軟件棧：一個高度集成的軟件架構可以提升測試性能，并縮短開發時間時間。 -- 異質計算：未來的測試系統將會需要不同類型的運算節點，來滿足愈加嚴格的數據分析與處理要求。 --IP to the Pin：在設計與測試階段共享FPGA IP可顯著縮短對設計進行驗證測試的時間，提高產品測試的效率和故障檢測覆蓋率。 閱讀2011自動化測試技術展望，讀者可訪問http://zone.ni.com/devzone/cda/tut/p/id/12694。 |
