|
在高端電子制造行業，如航天航空、汽車電子、無線通訊、精密醫療等，產品的清潔度與其可靠性密切相關，生產商們對清潔度的品質要求越來越嚴苛，而且對清潔度檢測也提出了更高的期望。近日，不少客戶找到ZESTRON尋找分析PCBA表面清潔度的解決方案，尤其是針對指定區域的殘留物可靠性風險分析。對于此類訴求，ZESTRON R&S（Reliability & Surfaces）總能快速響應，最短可在15分鐘內給出讓客戶滿意的答案。ZESTRON是如何做到的呢？ 關于清潔度的檢測，業內最早的標準是參照IPC-TM-650 2.3.25標準使用萃取溶液電阻率（ROSE）測試法，即用超純凈的萃取溶液從電子部件上提取工藝過程中留下的殘余物，通過測試提取液的電導率或電阻率評判表面清潔度。由于整個PCB/PCBA上的污染物的離子種類不同，測試中，統一用NaCl當量離子濃度來反映離子污染的程度。但是，隨著電子產品小型化、復雜化，污染物更易殘留在PCB通孔、焊點周圍和元件下方。ROSE測試法的局限性日益顯露——測試整板上離子污染的平均值而忽視局部區域離子污染的殘留量導致由此引發的電氣性能風險難以被發現。所以IPC也對曾經提出的ROSE測試中污染水平不應該大于1.56μg/cm2氯化鈉當量這一標準進行了修訂，聲明ROSE測試不再是一項能夠充分評價可接受的離子污染水平的測試方案。而C3（Critical Contamination Control）局部離子污染測試儀的出現正是ROSE檢測的一個重要補充，且已成歐美企業判定產品離子濃度是否合格而公認的一款測試儀器。 ZESTRON R&S在較短時間內幫助客戶解決清潔度測試難題的手段之一正是C3分析。C3是一種快速定性的分析方法，可以對像焊盤和通孔這種局部區域精準定位，實現精確測試。其原理是使用去離子水蒸汽從局部（0.1in2）測試點上將萃取樣品提取出，并在指定的離子污染限值的基礎上給出“CLEAN”或“DIRTY”的判定，從而判定該區域是否存在電化學失效如漏電、遷移或腐蝕等風險。以某汽車零部件供應商的C3要求（60s, 500μA）為例，它表示測試開始后如果60s內收集的萃取液的漏電流值不超過500μA，則可判定該測試區域為“CLEAN”，反之，則判定為“DIRTY”。 在ZESTRON北亞區分析實驗室，客戶可完成的離子污染測試范圍涵蓋：PCB、PCBA等電子半成品及成品、IC、BGA等元器件產品，還可搭配離子色譜分析（IC）對C3所萃取的溶液樣品做進一步的定性及定量分析，以識別污染物的類型和來源。ZESTRON R&S能夠對試樣表面進行全面而精準的表征和評價，同時結合專業經驗為客戶提供詳細的分析報告并推薦糾正措施。如您需要可靠性與表面技術相關的分析、評估和咨詢服務、歡迎訪問ZESTRON官網或發送郵件至academy-china@zestron.com與我們聯系。 
|
