Microwave Vision Group（MVG）今日宣布參加2023年8月20日至23日在哈爾濱舉辦的全國天線會議，并參與會議同期進行的產(chǎn)品展覽，展出其采用了MVG無限采樣專利技術(shù)的多探頭測試系統(tǒng)——SG Evo。
在由多探頭測試系統(tǒng)進行的球形天線測量中，DUT在方位角上旋轉(zhuǎn)，而設(shè)備周圍的電磁場同時被多探頭陣列掃描。對于大型天線和/或工作在更高頻率的天線，如毫米波，需要更多的測量點或樣本，以尊重奈奎斯特準則，無限制取樣是關(guān)鍵。 MVG的無限采樣專利技術(shù)通過對DUT定位器或探頭陣列進行輕微的機械旋轉(zhuǎn)來創(chuàng)造額外的虛擬探頭。利用這一無限采樣技術(shù)，系統(tǒng)提供以達到無限的掃描分辨率。無限采樣是通過結(jié)合自動化機械運動和探陣列電掃描來實現(xiàn)。
為了測試5G大規(guī)模MIMO BTS、衛(wèi)星及地面終端天線等大型、重型天線，MVG設(shè)計出用于進行天線球面近場測試和OTA測試的多探頭陣列測試SG Evo系統(tǒng)，該系統(tǒng)在拱形環(huán)中整合了無限采樣定位功能，減少了被測設(shè)備的移動，以提升測試結(jié)果的速度和準確性。 由于SG Evo的拱形環(huán)采用了MVG無限采樣專利技術(shù)，無需在多重采樣時傾斜被測設(shè)備，即使在測試重型被測設(shè)備時也避免了被測設(shè)備和方位角定位器的重力偏轉(zhuǎn)。此外，無限采樣技術(shù)通過旋轉(zhuǎn)加上探針陣列的額外電子掃描，引入了更多的數(shù)據(jù)收集點，形成了完整的測量球面，從而獲得了精確的分析能力。因此，SG Evo系統(tǒng)能夠以前所未有的速度給出精準的天線性能測試結(jié)果。 此外，SG Evo還能通過配備多個平行接收器大幅縮短測量時間, 尤其是在測試大量頻率或者具有眾多潛在天線波束狀態(tài)的設(shè)備時。 SG Evo的模塊化設(shè)計還為其架構(gòu)帶來了靈活性: 探頭陣列拱形環(huán)和定位器模塊的尺寸可以根據(jù)被測設(shè)備的典型尺寸和重量來確定，還可以根據(jù)被測頻率（400 MHz至30 GHz）選擇多套探頭。憑借MVG無限采樣專利技術(shù)和這些主要特性，SG Evo能夠以快于傳統(tǒng)測試方法10-100倍的速度進行精準測試和測量。 MVG 亞太技術(shù)總監(jiān)Mathieu Mercier表示：“SG Evo適于廣泛的應(yīng)用以及在測試的所有階段都非常有用，從研發(fā)的初始原型測試到生產(chǎn)中全集成設(shè)備的最終驗證測試。無源天線測量和OTA測試均適用于SG Evo。” 除了SG Evo之外，MVG還將在會議期間展示一系列最具創(chuàng)新性的5G測試技術(shù)和多探針天線測試與測量解決方案。MVG此次參展的展位號是11號，歡迎蒞臨參觀和體驗。 |
