負(fù)載調(diào)整率常規(guī)測試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)你知道哪些？如何進(jìn)行測試？

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　　負(fù)載調(diào)整率是用來描述在額定電壓下負(fù)載電流從0變化到最大時(shí)，輸出電壓相應(yīng)的變化情況。它是衡量電源芯片好壞的重要指標(biāo)，因此負(fù)載調(diào)整率測試是必不可少的環(huán)節(jié)。那么要如何測試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢?有哪些測試規(guī)范呢?

　　開關(guān)電源芯片負(fù)載調(diào)整率測試規(guī)范
　　適用范圍：主要是基于PCB板焊接的電源芯片，如DC/DC、LDO電源芯片等，也包括小功率DC/DC電源模塊。
　　測試工具：可調(diào)電源、電子負(fù)載、示波器、萬用表
　　測試環(huán)境：溫度(25±2℃);濕度(60%~70%);大氣壓強(qiáng)(86kPa~106kPa)

　　如何測試負(fù)載調(diào)整率？
　　1.輸入電壓為額定值，輸出電流取最小值，記錄最小負(fù)載量的輸出電壓U1;
　　2.調(diào)節(jié)負(fù)載為50%滿載，記錄對應(yīng)的輸出電壓U0;
　　3.調(diào)節(jié)負(fù)載為滿載，記錄對應(yīng)的輸出電壓U2;
　　4.負(fù)載調(diào)整率按以下公式計(jì)算：負(fù)載調(diào)整率={(U- U0)/U0}×100%，其中：U為U1 和U2中相對U0變化較大的值。

　　納米軟件電源模塊測試系統(tǒng)優(yōu)勢
　　1.58+測試項(xiàng)目：ATECLOUD-POWER電源模塊測試系統(tǒng)包含多種測試項(xiàng)目，除了負(fù)載調(diào)整率之外，還可以測試過壓保護(hù)、欠壓保護(hù)測試、穩(wěn)定性測試等各項(xiàng)常規(guī)指標(biāo)。
　　2.多種測試場景：該系統(tǒng)可用于多種場景測試，如高溫、低溫、濕度等，以評估電源模塊在不同環(huán)境下的性能。
　　3.自動(dòng)化測試：打破傳統(tǒng)測試方式，解決效率低下和手動(dòng)測試的準(zhǔn)確性問題。
　　4.測試數(shù)據(jù)診斷分析功能：數(shù)據(jù)洞察功能支持可視化數(shù)據(jù)看板，數(shù)據(jù)分析一目了然。而且也可以一鍵生成多樣化的數(shù)據(jù)報(bào)告，以便查看。
　　5.權(quán)限管理功能：支持層級管理，針對不同層級開啟數(shù)據(jù)權(quán)限，保障測試數(shù)據(jù)安全性。
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