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作者: Zalman Rafael - Infineon Technologies D Birundha - Infineon Technologies Shriram Kathavate - Infineon Technologies 對(duì)于之前的應(yīng)用程序測(cè)試平臺(tái)，我們使用公司內(nèi)部開發(fā)的控制器板，但該板需要一套單獨(dú)的兼容工具鏈來(lái)下載這些應(yīng)用程序。此外，我們還很難對(duì)這些工具鏈的用戶界面進(jìn)行導(dǎo)航，不得不使用額外的測(cè)試和測(cè)量設(shè)備。 有了虛擬儀器，我們可以使用同一套軟件和模塊化硬件執(zhí)行以下測(cè)試： 測(cè)試常見的協(xié)議(SPI, ASC, I2C) 測(cè)試PWM,ICU 測(cè)試模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器 測(cè)試控制器區(qū)域網(wǎng)絡(luò)(CAN) 測(cè)試時(shí)鐘和門控 測(cè)試多模塊同時(shí)運(yùn)行系統(tǒng) 對(duì)于需要測(cè)試的應(yīng)用來(lái)說(shuō)，使用FPGA的可重編程功能，它和LabVIEW之間的自動(dòng)化接口 以及CAN分析儀功能，我們可以很容易地開發(fā)我們的系統(tǒng)。 在整個(gè)框架上，我們節(jié)省了大量的時(shí)間和成本。在此之前，對(duì)于微控制器的每個(gè)模塊/外設(shè)，測(cè)試十至二十個(gè)案例我們需要花費(fèi)四至五個(gè)小時(shí)。使用我們所創(chuàng)建的基于NI 產(chǎn)品的系統(tǒng)，相同的一組測(cè)試執(zhí)行時(shí)間在十到十五分鐘內(nèi)，而且測(cè)試質(zhì)量顯著地提高。 我們需要合適的測(cè)試平臺(tái)應(yīng)用程序以測(cè)試微控制器的不同外設(shè)。比如，為了測(cè)試SPI接口，我們需要建立SPI主機(jī)或者從機(jī)作為測(cè)試平臺(tái)。我們使用LabVIEW FPGA VIs（CAN接口的CAN VI）來(lái)創(chuàng)建每個(gè)測(cè)試平臺(tái)。框架內(nèi)測(cè)試案例構(gòu)造則是指各自的VI。 在框架中，我們可以創(chuàng)建一個(gè)LabVIEW對(duì)象以獲取VI引用，對(duì)于每個(gè)測(cè)試案例的需求，都為用戶配置了輸入控件和顯示控件。執(zhí)行自動(dòng)化框架中的測(cè)試案例，需要調(diào)用特定的VI，配置該VI，最后運(yùn)行它。 該框架無(wú)需用戶參與就可以執(zhí)行測(cè)試。比如，測(cè)量PWM信號(hào)的解決方案如下：VI測(cè)量占空比和信號(hào)頻率，然后將其保存到Excel文件中。 另一種解決方案涉及從SPI主機(jī)接收數(shù)據(jù)。作為從機(jī)SPI 的VI 可以從主機(jī)測(cè)試設(shè)備（DUT）中接收數(shù)據(jù)。SPI從機(jī)工作在不同的波特率和變化的數(shù)據(jù)比特下。用戶可以配置VI,而其運(yùn)行取決于測(cè)試設(shè)備(DUT)的主SPI的配置。 然而，還有一種解決方案涉及產(chǎn)生所需的脈沖個(gè)數(shù)以測(cè)試捕獲和計(jì)數(shù)模塊。VI可以產(chǎn)生在上升沿或者下降沿觸發(fā)的脈沖。在VI 運(yùn)行時(shí)，用戶可以配置VI以產(chǎn)生所需個(gè)數(shù)的脈沖。 結(jié)論 使用NI公司的產(chǎn)品，我們可以使用一套軟硬件解決方案，輕而易舉地測(cè)試不同的微控制器外設(shè)。我們使用NI的產(chǎn)品，通過(guò)向自動(dòng)化框架提供易用的接口，使我們的測(cè)試系統(tǒng)自動(dòng)化，這樣節(jié)省了大量的精力和成本。 
作者信息: Zalman Rafael Infineon Technologies Kalyani Platina, 3rd floor, Block I #6 & 24, EPIP Zone Phase II Whitefield, Bangalore 印度 rafael.zalman@infineon.com |
