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Aigtek高壓放大器在液晶顯示圖像殘留研究中的應(yīng)用

發(fā)布時間:2025-3-25 10:42    發(fā)布者:aigtek01
關(guān)鍵詞: 高壓放大器
  實驗名稱:納米粒子摻雜對響應(yīng)時間的影響
  測試設(shè)備:高壓放大器信號發(fā)生器示波器、熱臺控制器、衰減器、探測器等。
  實驗過程:

  圖1:VAN盒響應(yīng)時間的測量裝置
  響應(yīng)時間也是影響液晶顯示圖像殘留的重要參數(shù),響應(yīng)時間越短越不容易產(chǎn)生圖像殘留。實驗中測量響應(yīng)時間的裝置如圖1所示,光源為632.8nm的紅色激光,光源經(jīng)過衰減器、可調(diào)光闌、偏振片和λ/4波片后成圓偏振光,經(jīng)過起偏器后成線偏振光,起偏器與檢偏器的光軸方向成90°,熱臺控制液晶盒的溫度為28°C。信號發(fā)生器輸出1kHzAC方波信號和DC信號的組合波形,組合波形的周期為2s,經(jīng)高壓放大器放大后施加在液晶盒上。當(dāng)電壓超過液晶盒閾值電壓后,探測器會檢測到光強的變化并傳輸?shù)绞静ㄆ魃希ㄟ^示波器可以觀察到液晶的動態(tài)響應(yīng)過程。
  實驗結(jié)果:

  圖2:不同摻雜濃度γ-Fe2O3納米粒子與負(fù)性LC混合物在VAN盒中的下降和上升時間

  圖3:不同摻雜濃度與響應(yīng)時間的關(guān)系(a)歸一化透過率與下降時間的關(guān)系;(b)歸一化透過率與上升時間的關(guān)系;(c)下降時間與摻雜濃度的關(guān)系;(d)上升時間與摻雜濃度的關(guān)系
  實驗測得的不同摻雜γ-Fe2O3納米粒子濃度對響應(yīng)時間的影響如圖2所示,由圖可知納米粒子摻雜對響應(yīng)時間有一定的影響。圖3(a)和圖3(b)分別給出了下降時間和上升時間的放大圖,其中下降時間為去電壓過程,上升時間為加電壓過程;由圖3(c)和圖3(d)可以看出上升時間和下降時間均隨摻雜濃度的增加先降低后升高,并在摻雜濃度為0.034wt%時達(dá)到最低值,在摻雜濃度為0.034wt%時,下降時間可以縮短8.11%,上升時間可以縮短15.49%。SRDCV與響應(yīng)時間隨γ-Fe2O3納米粒子摻雜變化規(guī)律一致,說明γ-Fe2O3納米粒子的摻雜有效改善了VAN顯示模式的圖像殘留現(xiàn)象。
  高壓放大器推薦:ATA-7015

  圖:ATA-7015高壓放大器指標(biāo)參數(shù)
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