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尼得科精密檢測科技將參展2025年6月4日(周三)～6月6日(周五)在東京國際展覽中心舉辦的“第54屆國際電子電路產業展覽會”。 在本次展會上,尼得科精密檢測科技將主要展示面向新一代封裝而備受矚目的、Glass Panel的TGV檢測解決方案以及在尼得科集團協同效應下新開發的自動搬運設備“EFEM(Equipment Front End Module)”。此外,我們還新增了符合市場趨勢的AI及LEO衛星電路板的導通絕緣檢測設備“GATS-8360”。現有的光學設備和電氣檢測設備也實現了高精度化。我們將提供一站式的符合市場需求的前沿檢測技術。歡迎您蒞臨本公司展位! 〈展會概要〉 ・展期:2025年6月4日(周三)～ 6月6日(周五) ・地點:東京國際展覽中心 東展廳 ・展位:4號館 4G-06 〈展出內容〉 ·面向TGV的高精度2D/3D檢測解決方案 ·適用于Equipment Front End Module全尺寸面板的自動搬運機cEFEM系列” ·面向大型HDI的導通絕緣檢測裝置“GATS-8360” ·面向HDI/PCB基板的高速step & repeat式導通/短路檢測設備“STAR REC M6V SW” ・適用于高密度基板的2D/3D檢測設備 “RSH系列” ・AC/DC多功能測試儀 “R700系列” ・適用于窄間距的探針 “NS探針” ・IGBT/WBG功率模塊測試系統 “NATS-1000系列” ・功率半導體芯片/器件檢測系統 “NATS系列” ·xEV電機測試臺“TDAS系列”(銷售/受托測試/租賃) ·xEV建模模擬器“E-Transport Simulator” ·xEV電機開發支持工具 變頻器、仿真器等 |
