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X-FAB為180納米XH018工藝新增隔離等級,提升SPAD集成能力

發(fā)布時間:2025-6-23 16:59    發(fā)布者:eechina
關鍵詞: ISOMOS1 , 填充因子 , X-FAB , SPAD
全新ISOMOS1模塊實現(xiàn)更高填充因子和更小面積需求

中國北京,2025年6月23日——全球公認的卓越的模擬/混合信號晶圓代工廠X-FAB Silicon Foundries(“X-FAB”)今日宣布,在其180納米XH018半導體工藝平臺中推出新的隔離等級,旨在支持更緊湊、更高效的單光子雪崩二極管(SPAD)應用。新隔離等級能夠實現(xiàn)更高的功能集成度并提升像素密度和填充因子,從而減少芯片面積。


采用全新緊湊型25V隔離等級模塊ISOMOS1(左)和先前所需的模塊ISOMOS2(右)的4×3 SPAD像素示例設計

SPAD是眾多新興應用中的關鍵組件,涵蓋應用于自動駕駛汽車的激光雷達(LiDAR)、3D成像、增強/虛擬現(xiàn)實系統(tǒng)(AR/VR)中的深度感知、量子通信,以及生物醫(yī)學傳感等領域。X-FAB已在180納米XH018平臺上提供多款SPAD器件,其有效面積范圍從10μm至20μm。這其中包括一款針對近紅外線優(yōu)化的版本,可實現(xiàn)近紅外波段更高的光子探測概率(PDP)性能。

為了實現(xiàn)高分辨率的SPAD陣列,緊湊的像素間距和較高的填充因子至關重要。此次X-FAB全新推出的ISOMOS1作為一款25V隔離等級模塊,可大幅優(yōu)化晶體管隔離結構的緊湊性,無需額外掩模層,且與X-FAB現(xiàn)有的其他SPAD器件完美兼容。

這一技術改進在SPAD像素布局上的優(yōu)勢十分明顯。以一個典型的4×3 SPAD陣列(每個光學區(qū)域為10×10μm2)為例,通過采用新隔離等級后,相較于先前的隔離等級,芯片總面積可減少約25%,填充因子可提高約30%。通過進一步優(yōu)化像素設計,還能在面積效率和探測靈敏度方面大幅提升。

X-FAB的SPAD解決方案已廣泛應用于需實現(xiàn)直接飛行時間(dToF)測距的各類場景,如智能手機、無人機和投影設備等。這一全新技術成果適用于這些需要在緊湊空間內實現(xiàn)高分辨率傳感的應用。它能夠在多種場景下實現(xiàn)精確的深度感知,包括工業(yè)距離檢測和機器人傳感,例如在協(xié)作機器人作業(yè)區(qū)域建立防護,避免碰撞。除了提升性能和集成密度外,該新隔離等級還為更多基于SPAD的系統(tǒng)打開應用空間,特別是那些在緊湊空間內需實現(xiàn)低噪聲、高速單光子探測的場合。

X-FAB光電子技術營銷經(jīng)理Heming Wei解釋道:“在XH018工藝中引入新的隔離等級,是推動SPAD集成向前邁出的重要一步。它不僅實現(xiàn)了更緊湊的布局和更卓越的性能,同時讓我們已經(jīng)過驗證且可靠的180納米平臺能夠用于更先進傳感系統(tǒng)的開發(fā)。”

全新ISOMOS1模塊和工藝設計套件(PDK)現(xiàn)已正式推出,可用于支持下一代SPAD陣列的高效評估與開發(fā)。X-FAB將參展于美國加州圣克拉拉舉行的Sensors Converge 2025展會(6月24日至26日),并在847號展臺展示其最新的傳感器技術。


縮略語:
AR                   增強現(xiàn)實
LiDAR                激光雷達
NIR                近紅外線
PDK                工藝設計套件
SPAD                單光子雪崩二極管
VR                    虛擬現(xiàn)實

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