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挑戰(zhàn)：構(gòu)建靈活的驗(yàn)證測(cè)試解決方案，滿足半導(dǎo)體芯片測(cè)試的多種射頻標(biāo)準(zhǔn)，進(jìn)而升級(jí)整個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室。 解決方案：使用軟件定義的NI PXI平臺(tái)，取代笨重、昂貴、難以調(diào)整的箱型儀器。 作者：Sylvain Bertrand - ST-Ericsson 在智能手機(jī)與平板電腦的半導(dǎo)體開(kāi)發(fā)方面，ST-Ericsson是業(yè)界的領(lǐng)導(dǎo)廠商。我們?cè)谌蚨荚O(shè)有開(kāi)發(fā)與測(cè)試中心以及多個(gè)特性記述實(shí)驗(yàn)室，可完整 地測(cè)試與驗(yàn)證智能手機(jī)和平板電腦的射頻元件/平臺(tái)。 這些平臺(tái)包含多種無(wú)線電，例如GPS、藍(lán)牙、3G、4G等規(guī)格，這一系列的平臺(tái)測(cè)試作業(yè)包含了近800,000次測(cè)量。 ST-Ericsson芯片本身極為復(fù)雜，因此就需要驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室能夠滿足多種射頻標(biāo)準(zhǔn)，且達(dá)到嚴(yán)格測(cè)試的效能需求。 就算只是連接這些芯片，也需要多種標(biāo)準(zhǔn)與自定制數(shù)字協(xié)議。 然而，射頻分析儀、發(fā)生器、數(shù)字波形發(fā)生器等傳統(tǒng)箱型儀器體積龐大又昂貴，且其靈活度無(wú)法滿足ST-Ericsson的需求。 ST-Ericsson的測(cè)試工程師因此選用了PXI平臺(tái)來(lái)取代傳統(tǒng)箱型儀器。 他們選擇了NI FlexRIO與不同的數(shù)字標(biāo)準(zhǔn)，例如串行外設(shè)接口(SPI)和內(nèi)置集成電路(I2C)，進(jìn)行通信。即便目前市面上的數(shù)字適配器模塊不能夠滿足需求，工程師也可快速開(kāi)發(fā)自己的適配器模塊，無(wú)需擔(dān)心電腦后端以及FPGA通信功能。 針對(duì)射頻測(cè)試，ST-Ericsson選用了高性能的NI PXIe-5665矢量信號(hào)分析儀，它具備軟件定義的特性，并可與NI LabVIEW工具包兼容，滿足所有無(wú)線標(biāo)準(zhǔn)。
總的來(lái)說(shuō)，相較之前的解決方案，PXI系統(tǒng)速度提升了十倍，而成本是之前的三分之一。PXI平臺(tái)的靈活性，能夠適應(yīng)各種不同的數(shù)字和射頻標(biāo)準(zhǔn)。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
