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測(cè)試測(cè)量資料下載列表

最大限度地利用邏輯分析儀

邏輯分析儀是一種多功能工具,可以幫助工程師進(jìn)行數(shù)字硬件調(diào)試、設(shè)計(jì)檢驗(yàn)和嵌入式軟件調(diào)試。然而,許多工程師在應(yīng)該使用邏輯分析儀時(shí),卻使 ...
2014年02月26日 22:56   |  
邏輯分析儀  

使用高性能AWG生成相干光信號(hào)

泰克 AWG70000 系列任意波形發(fā)生器 (AWG) 可以使用 10 位垂直分辨率實(shí)現(xiàn)高達(dá) 50 Gsa/s 的采樣率。這種性能水平可以直接生成現(xiàn)代相干光通信 ...
2014年02月26日 16:59   |  
AWG   光信號(hào)  

觸發(fā)基礎(chǔ)知識(shí)--DPO7000、MSO/DPO/DSA70000系列示波器Pinpoint/可視觸發(fā)及高級(jí)搜索和標(biāo)

示波器為了解電子信號(hào)世界提供了一個(gè)窗口。早期示波器只能顯示重復(fù)的事件或連續(xù)的電氣事件,限制了示波器的應(yīng)用范圍。之后在 1947 年,Howa ...
2014年02月26日 16:38   |  
觸發(fā)   DPO7000   MSO   DSA70000   示波器  

RFID測(cè)試系統(tǒng)概述

隨著物聯(lián)網(wǎng)的推進(jìn),RFID 應(yīng)用正迅速增長(zhǎng)。RFID 和NFC 技術(shù)都面臨著各種不尋常的工程測(cè)量挑戰(zhàn)。突發(fā)信號(hào)、帶寬效率低的調(diào)制、反向散射的數(shù)據(jù) ...
2014年02月26日 16:29   |  
RFID  

泰克雷達(dá)測(cè)試系統(tǒng)

雷達(dá)(radar)原是“無(wú)線(xiàn)電探測(cè)與定位”的英文縮寫(xiě)。雷達(dá)的基本任務(wù)是探測(cè)感興趣的目標(biāo),測(cè)定有關(guān)目標(biāo)的距離、方問(wèn)、速度等狀態(tài)參數(shù)。雷達(dá)的 ...
2014年02月26日 16:24   |  
雷達(dá)  

實(shí)時(shí)信號(hào)分析技術(shù)簡(jiǎn)介

對(duì)任何電信號(hào),我們都可以通過(guò)時(shí)域分析或頻域分析來(lái)描述該信號(hào)的特征,示波器便是典型的時(shí)域分析測(cè)試儀器。對(duì)無(wú)線(xiàn)電信號(hào),時(shí)域分析通常不能 ...
2014年02月26日 16:20   |  
信號(hào)分析  

實(shí)時(shí)頻譜分析基礎(chǔ)知識(shí)

鑒于檢定當(dāng)前RF器件行為特點(diǎn)的挑戰(zhàn),必需了解頻率、幅度和調(diào)制參數(shù)在短期和長(zhǎng)期內(nèi)的行為方式。在這些情況下,使用傳統(tǒng)工具如掃頻分析儀(SA) ...
2014年02月26日 16:18   |  
頻譜分析  

用于半導(dǎo)體可靠性的短脈沖強(qiáng)制性測(cè)試

開(kāi)發(fā)IC讓它能工作是一回事;而讓它耐用就是另一回事了。隨著新技術(shù)出現(xiàn)新的可靠性問(wèn)題,后者變得越來(lái)越難。在封裝之前,在晶圓上進(jìn)行脈沖測(cè) ...
2014年02月26日 16:05   |  
半導(dǎo)體   可靠性   短脈沖   強(qiáng)制性  

半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試創(chuàng)新平臺(tái)ACS

Challenge and Solution Semiconductor Parametric Testing ACS Innovation Platform 下載:
2014年02月26日 16:03   |  
半導(dǎo)體   參數(shù)測(cè)試   ACS  

霍爾效應(yīng)測(cè)量基礎(chǔ)

主要議題: 什么是HALL效應(yīng)? HALL 測(cè)試主要適用與哪些材料,是什么驅(qū)使要做HALL測(cè)試,哪些人會(huì)用到HALL測(cè)試? 在選擇設(shè)備做HALL測(cè)試時(shí),哪 ...
2014年02月26日 15:59   |  
霍爾效應(yīng)  

霍爾效應(yīng)測(cè)量方案

Keithley capability for Hall Effect measurements 下載:
2014年02月26日 15:57   |  
霍爾效應(yīng)  

面向研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的最新測(cè)量方法

New Test Methods for the r&d Lab Learn how to solve 2009’s toughest electrical measurement problems 下載:
2014年02月26日 15:56   |  
研發(fā)實(shí)驗(yàn)室   測(cè)量  

迎接納米測(cè)試挑戰(zhàn),最全的納米測(cè)量攻略

Keithley is helping advance the state of the art in a growing list ofnanotechnology applications—yours may be one of them. Six de ...
2014年02月26日 15:53   |  
納米測(cè)試   納米測(cè)量   納米  

從I-V測(cè)量設(shè)備獲取更高電流的方法(英文)

The most flexible test equipment for sourcing and measuring current (I) and voltage (V) are source-measure units (SMUs) such as ...
2014年02月26日 15:50   |  
I-V   測(cè)量設(shè)備   電流  

為大學(xué)半導(dǎo)體制造實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)特性分析系統(tǒng)(英文)

Virginia Polytechnic Institute and State University recently opened an 1,800 sq. ft. Class 10,000 cleanroom. This cleanroom is des ...
2014年02月26日 15:48   |  
半導(dǎo)體   實(shí)驗(yàn)室   特性分析  

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