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測試測量資料下載列表

用于光電I-V測試的數(shù)字源表(英文)

The SourceMeter family was developed specifically for test applications that demand tightly coupled precision voltage and current ...
2014年02月26日 15:46   |  
光電   I-V   數(shù)字源表  

LXI為實(shí)現(xiàn)更高智能儀器開路(英文)

The trend toward more intelligent instruments has become increasingly evident as vendors of test and measurement equipment take ad ...
2014年02月26日 15:44   |  
LXI   智能儀器  

用4200-CVU電容-電壓單位測量電感

Although the 4200-CVU capacitance option for Keithley’s Model 4200 Semiconductor Characterization System does not measure inducta ...
2014年02月26日 15:41   |  
4200-CVU   電容   電壓   電感  

4200-SCS演示與新用戶培訓(xùn)

Instructions to view the 4200-SCS demo: 1.Unzip the attached “4200-SCS_Intro.zip” folder. The “4200-SCS_Intro” folder has two ...
2014年02月26日 15:40   |  
4200-SCS   新用戶   培訓(xùn)  

Setting the Timeout in an IVI Driver

The default timeout value for all Keithley IVI-COM drivers is two seconds (2000ms). This generally allows sufficient time to make ...
2014年02月26日 15:36   |  
Timeout   IVI  

2897 Comparing a Series 7000 SCPI Application to a Series 3700 Script

For many years, instrument manufacturers have used “Standard Commands for Programmable Instrumentation” or SCPI to con-trol prog ...
2014年02月26日 15:33   |  
2897   Comparing   Series   7000   SCPI  

利用吉時利4200-SCS型半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)進(jìn)行電荷泵測量(英文)

Charge pumping (CP) is a well-known measurement technique for analyzing the semiconductor–dielectric interface of MOS structures. ...
2014年02月26日 15:30   |  
4200-SCS   電荷泵  

全新一代簡單、可靠、完備的極速I-V測試方案(英文)

Ultra-Fast I-V Module for the Model 4200-SCS 下載:
2014年02月26日 15:27   |  
I-V  

了解基于直流、射頻和光的開關(guān)和控制方案

Keithley’s Switching Systems Switch and control solutions for DC, RF, and light 下載:
2014年02月26日 15:22   |  
直流   射頻   開關(guān)  

了解最新LED測試方法以實(shí)現(xiàn)更高的準(zhǔn)確度、可靠性和經(jīng)濟(jì)效益(一)

Using Forward Voltage to Measure Semiconductor Junction Temperature 下載:
2014年02月26日 15:20   |  
LED  

了解最新LED測試方法以實(shí)現(xiàn)更高的準(zhǔn)確度、可靠性和經(jīng)濟(jì)效益(二)

High Speed Testing of High Brightness LEDs 下載:
2014年02月26日 15:17   |  
LED  

吉時利新材料與新器件測量技術(shù)指南

Exploring the boundaries of materials science or device development? Learn the latest techniques for ensuring electrical measur ...
2014年02月26日 15:14   |  
吉時利   新材料   新器件   測量技術(shù)  

優(yōu)化電纜連接技術(shù)改善晶圓上測量結(jié)果

完全分析所有材料和器件需要進(jìn)行精密直流、交流阻抗以及超快 I-V或脈沖 I-V測量。將測試設(shè)備連接到半自動或手動探測臺的復(fù)雜性會使晶圓上的 ...
2014年02月26日 15:05   |  
電纜連接   晶圓  

基于2600A系列數(shù)字源表的高密度、可見光LED生產(chǎn)測試

可見光二極管(LED)以其高效率和長壽命的特點(diǎn)廣受歡迎,正獲得越來越廣泛的應(yīng)用,包括汽車顯示器和外部大燈、路燈、戶外標(biāo)識、視頻監(jiān)控器 ...
2014年02月26日 15:02   |  
2600A   數(shù)字源表   LED  

S530參數(shù)測試系統(tǒng)datasheet

吉時利的S530參數(shù)測試系統(tǒng)采用了成熟的源和測量技術(shù),可滿足工藝控制監(jiān)測、工藝可靠性監(jiān)測以及器件特性分析所需的全部直流和C-V測量。 ...
2014年02月26日 14:54   |  
參數(shù)測試   S530  

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