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測試測量文章列表

Aigtek高壓放大器在鎖相環穩定重復頻率研究中的應用

  實驗名稱:鎖相環穩定重復頻率的系統分析   實驗內容:針對重復頻率的漂移,引入兩套鎖相環系統反饋控制兩個激光器的重復頻率,將其鎖定在同一個穩定的時鐘源上。本章主要闡述了經典鎖相 ...
2025年06月06日 18:35   |  
高壓放大器  

ATA-2161高壓放大器基于單端接觸原理的LED外延片無損檢測的應用

  實驗名稱:基于單端接觸原理的LED外延片無損檢測   實驗內容:基于單注入模式,使用新型檢測系統獲取LED外延片的電學參數與光學參數。   研究方向:LED外延片檢測   測試設備:光 ...
2025年06月06日 18:30   |  
高壓放大器  

ATA-2021B高壓放大器在微流控超聲空化實驗中的應用

  實驗名稱:ATA-2021B高壓放大器在微流控超聲空化實驗中的應用   實驗內容:利用超聲換能器驅動微流控基底產生100kHz~2MHz的振動,誘導微流道內發生強烈的聲壓變化,同時利用高速顯微攝影 ...
2025年06月06日 18:26   |  
高壓放大器  

ATA-2082高壓放大器在射流氣液界面波動的超聲波測量中的應用

  實驗名稱:高壓放大器在射流氣液界面波動的超聲波測量中的應用   實驗內容:過高壓放大器驅動超聲波發生器,隨后測量射流氣液界面波動所引起的聲場變化,基于超聲波散射的原理實現射流氣 ...
2025年06月06日 18:21   |  
高壓放大器  
驅動算力的心臟革命:AI服務器電源三大技術躍遷與測試破局

驅動算力的心臟革命:AI服務器電源三大技術躍遷與測試破局

作者:泰克科技 在2025年,AI浪潮持續洶涌澎湃,熱度不斷攀升。如今,大模型的參數規模愈發龐大,令人咋舌,其訓練周期更是從以往的月級別大幅壓縮至周級別。與此同時,ChatGPT、Sora、Grok ...
2025年06月06日 18:14   |  
AI服務器   服務器供電   電源測試  

Aigtek高壓功率放大器在生物和超聲領域中的作用和實驗

  高壓功率放大器在生物和超聲領域中具有重要作用,以下分別說明其在兩個領域中的作用和實驗:   生物領域   作用:高壓功率放大器用于將低功率的信號放大成高功率的超聲波,從而實現對 ...
2025年06月04日 18:00   |  
高壓功率放大器  

Aigtek高壓放大器在噴墨打印和電流體噴印中的作用和實驗

  高壓放大器在噴墨打印和電流體噴印中有許多的應用,下面就讓安泰電子來為大家介紹高壓放大器在噴墨打印和電流體噴印中的作用和實驗。   噴墨打印   作用:高壓放大器在噴墨打印中主要 ...
2025年06月04日 17:36   |  
高壓放大器  

安泰寬帶功率放大器在超聲領域中的作用和應用實驗

  寬帶功率放大器在超聲領域有不少的應用,下面來為大家介紹安泰寬帶功率放大器在超聲領域中的作用和應用實驗。   超聲多普勒效應研究   信號驅動與激勵:為超聲探頭提供高功率的驅動信 ...
2025年06月03日 18:30   |  
寬帶功率放大器  

Aigtek寬帶功率放大器的技術原理和應用場景實驗介紹

  寬帶功率放大器是一種能夠在廣泛頻率范圍內進行信號放大的功率放大器。其工作原理基于放大器的三個基本要素:輸入信號、放大器本身和輸出信號。輸入信號通常經過一個匹配網絡進入放大器,放 ...
2025年06月03日 18:17   |  
功率放大器  
wafer晶圓幾何形貌測量系統:厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數據測量

wafer晶圓幾何形貌測量系統:厚度(THK)翹曲度(Warp)彎曲度(Bow)等數據測量

晶圓是半導體制造的核心基材,所有集成電路(IC)均構建于晶圓之上,其質量直接決定芯片性能、功耗和可靠性,是摩爾定律持續推進的物質基礎。其中晶圓的厚度(THK)、翹曲度(Warp) 和彎曲度( ...
2025年05月30日 17:21   |  
晶圓   精密測量  
掃描電鏡:打開微觀世界的

掃描電鏡:打開微觀世界的"超維相機"

當你用手機拍攝一朵花的微距照片時,放大100倍已足夠驚艷。但如果告訴你,科學家手中的"相機"能將物體放大百萬倍,連病毒表面的蛋白突觸都清晰可見,你是否會好奇這背后的黑科技?這把打開微觀 ...
2025年05月30日 17:15   |  
顯微鏡   掃描電鏡   三維形貌  

自動測試設備應用中PhotoMOS開關的替代方案

作者:Edwin Omoruyi,ADI公司高級應用工程師 問題 人工智能(AI)應用對高性能內存,特別是高帶寬內存(HBM)的需求不斷增長,這是否會導致自動測試設備(ATE)廠商的設計變得更加復雜? 回答 ...
2025年05月29日 18:12   |  
ATE   自動測試   PhotoMOS  

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