DPO/DSA70000D系列揭秘：定制的多芯片模塊確保高速信號被采樣前永遠不會接觸

發布時間：2014-2-24 13:47 發布者：eechina

隨著技術進步以摩爾定律的速度*1快速發展，測試測量任務變得越來越困難。高性能應用，特別是要求芯片檢定、串行數據一致性測試、光學調制分析、雙倍數據速率（DDR）存儲器和寬帶RF檢驗的應用，需要以前不能實現的測試測量功能，包括把杰出的性能（帶寬和采樣率）和靈活性（端接電壓和靈敏度）結合起來，而又不會給信號保真度帶來負面影響。

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