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幫助工程師完善載波聚合和空間多路復用設計 安捷倫科技公司推出 LTE/LTE-Advanced 多通道 PXI測試解決方案。該方案可加速配置多通道測試系統，有助于工程師進一步完善其復雜的載波聚合和空間多路復用 MIMO 設計。 
隨著多天線設計需要越來越精密的多通道測試配置，設計和表征用于基站、微蜂窩、微微蜂窩、中繼器和移動設備等的元器件和射頻子系統變得更加復雜。安捷倫最新測試解決方案能夠生成復雜的 LTE/LTE-A 多通道/ MIMO 波形，并能夠同時在頻域和調制域進行多通道分析。易于使用的圖形用戶界面可顯著縮短測試配置的設置時間。此外，該解決方案還對LTE/LTE-Advanced MIMO 和載波聚合的設置進行了優化。 該解決方案配有機箱背板觸發工具，可以配置和發送背板觸發，允許兩臺 PXIe 機箱實現最佳的 MIMO 時間同步。Agilent RF M9381A PXIe 矢量信號發生器搭配 M9391A PXIe 矢量信號分析儀，可以在多通道之間提供小于 0.38% 的 EVM 和小于 20 納秒的時間同步，由此輕松實現時間同步的 2x2 或 4x4 MIMO 測試。此外，該方案還支持高達 160 MHz 的信號生成和分析帶寬，適用于廣泛的 LTE-Advanced 載波聚合應用。 如欲了解有關 LTE-A 多通道應用測試解決方案的更多信息，請訪問： www.agilent.com/find/solution-LTE ，下載相關文獻，或者注冊觀看 7 月 15 日的免費網上直播“應用最新LTE-Advanced 技術標準應對設計和測試挑戰”。瀏覽產品圖片，請訪問： www.agilent.com/find/LTE_images 。安捷倫可針對具體的測試環境量身定制參考系統，如欲了解價格信息，請聯系安捷倫公司。 |
