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羅德與施瓦茨公司推出的RTO數字示波器可以幫助開發工程師進行電子設計時在時域和頻域來分析EMI問題，并且能夠幫助定位EMI的產生原因。RTO數字示波器具備極低的輸入噪聲，在0-4GHz全帶寬范圍內，靈敏度可以達到1mv/div。RTO實時FFT頻譜分析能力，配合近場探頭分析診斷EMI問題。 EMI診斷的關鍵是FFT技術。傳統示波器的FFT功能，在頻域進行參數設置很困難，并且頻譜分析需要很長的時間。由于R&S RTO示波器的FFT操作界面是基于頻譜分析儀的，因此用戶可以像使用頻譜分析儀一樣，直接設置參數，包括起始頻率，截止頻率，帶寬分辨率和探測器類型。 強大的FFT技術配合RTO示波器的大存儲深度，使得用戶可以獨立設置時域和頻域參數，靈活的在時域和頻域進行分析。這些功能使得用戶可以盡快發現輻射干擾源。 R&S RTO示波器使用Overlap FFT進行頻域分析。重疊FFT技術可以實現對雜散輻射的高靈敏度，能夠捕獲到偶發雜散頻點。示波器首先將被捕獲的時域信號分割成若干個時間段，然后分別進行FFT計算得到每一個時間段的頻譜，這樣能在頻譜中捕獲到低能量的偶發雜散信號。 然后，對出現頻率不同的信號標注以不同的顏色，所有時間段FFT分析頻譜組合成完整的頻譜。 輻射與偶發的輻射會以標注不同的顏色進行區分。使用不同顏色標示技術的頻譜分析能夠完美的展示出EMI輻射出現的類型和頻率。 加窗FFT技術使用戶可以通過在被捕獲的信號上自定義一個時間窗口，僅對時間窗口內的信號進行FFT分析，并且通過滑動這個窗口，分析出每一段時域信號與頻譜的對應關系。例如，可以使用該技術分析由于開關電源的晶體管過沖導致的EMI問題。確認問題點之后，用戶可以迅速對整改后的效果進行驗證。 在分析雜散的輻射問題時，模板工具也非常有效。用戶在頻域定義模板，并對違規信號做相應的設置，這樣就可以準確地判斷是哪些信號造成了頻譜違規。甚至對已經捕獲的信號，用戶也可以調整FFT參數，例如加窗的大小以及頻率分辨率等。如此強大的功能使用戶可以對很難捕獲到的EMI輻射進行仔細的分析。 R&S RTO示波器憑借其豐富的捕獲特性和分析特性，為示波器樹立了一個新的標桿。同時，配合以豐富的附件，例如R&S HZ-15近場探頭，提供了一整套完善的EMI診斷方案。 使用示波器進行EMI診斷的應用文章以及希望獲取更多信息請登陸 www.scope-of-the-art.de Fig: R&S RTO數字示波器 —— 低噪聲前端/高性能FFT鑄造出強大的EMI診斷工具 |
