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關(guān)于調(diào)試STM32程序時,某些標(biāo)志位被調(diào)試軟件意外清除的問題

發(fā)布時間:2009-11-26 11:09    發(fā)布者:STM32
關(guān)鍵詞: 程序 , 調(diào)試 , 軟件 , 意外
在調(diào)試的過程中,使用調(diào)試軟件的寄存器或存儲器顯示窗口,可以很方便地查看外設(shè)寄存器的狀態(tài)。

很多朋友都碰到過這樣的問題:在單步調(diào)試時始終不能在顯示窗口看到某些標(biāo)志位的變化,應(yīng)該設(shè)置這些標(biāo)志位的時候,窗口中卻顯示為0,不少人都錯誤地認(rèn)為這是芯片的問題。

我們知道,不少STM32外設(shè)的狀態(tài)寄存器位,可以通過對某些寄存器的讀操作而清除(例如I2C的I2C_SR1中的很多標(biāo)志位),在調(diào)試過程中,每當(dāng)程序停止在設(shè)置的斷點或單步停止時,調(diào)試軟件都會自動地讀出所有指定的寄存器和存儲器中的內(nèi)容,并刷新窗口的顯示,調(diào)試軟件的這個讀操作恰好清除了那些標(biāo)志位,造成了上面描述的現(xiàn)象。

有幾個簡單的辦法解決這個問題:

1)關(guān)閉寄存器或存儲器顯示窗口
2)在寄存器或存儲器顯示窗口中不顯示這些敏感的寄存器
3)不要把斷點放在對這些敏感的寄存器位操作的前面,以保證這些寄存器位不被調(diào)試軟件意外地操作。
4)看官自己添加~~~~~

發(fā)表于                            2009/3/16
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