日置阻抗分析儀IM3570規(guī)格及參數(shù)

agitek2008

　　LCR測(cè)試儀和阻抗分析儀合二為一的IM3570通過(guò)掃頻測(cè)量和峰值比較器功能對(duì)共振狀態(tài)進(jìn)行合格判定，并在LCR模式想能通過(guò)1kHz或120Hz的LCR測(cè)量進(jìn)行檢查。掃頻測(cè)量和LCR測(cè)量一臺(tái)儀器全部實(shí)現(xiàn)。
　　● 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
　　● LCR模式下最快1.5ms(1kHz)，0.5ms(100kHz)的高速測(cè)量
　　● 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
　　● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測(cè)量
　　● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
　　● 可以用于無(wú)線充電評(píng)價(jià)系統(tǒng)TS2400
　　● 搭配4ch掃描模塊機(jī)架，更能實(shí)現(xiàn)2MHz阻抗的4ch測(cè)量
　　基本參數(shù)

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