案例分享：矢網(wǎng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)怎么檢測(cè)晶圓芯片S參數(shù)

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　　北京某科技公司致力于射頻芯片的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售，其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于4G、5G移動(dòng)終端和物聯(lián)網(wǎng)模組等領(lǐng)域。該公司與納米軟件合作，旨在通過(guò)NSAT-1000矢網(wǎng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和探針臺(tái)的交互，完成晶圓芯片S參數(shù)的全自動(dòng)化測(cè)試。

　　矢網(wǎng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試晶圓芯片的原理

　　網(wǎng)絡(luò)分析儀自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)GPIB、LAN等通訊線(xiàn)纜與探針臺(tái)和網(wǎng)絡(luò)分析儀連接，利用邊緣計(jì)算設(shè)備ATEBOX調(diào)動(dòng)這些儀器及測(cè)試流程，實(shí)現(xiàn)晶圓上多個(gè)芯片的連續(xù)自動(dòng)化測(cè)試。

　　在測(cè)試前，系統(tǒng)會(huì)獲取探針臺(tái)的狀態(tài)，判斷是否開(kāi)始測(cè)試。在測(cè)試過(guò)程中，系統(tǒng)會(huì)通過(guò)探針臺(tái)獲取當(dāng)前被測(cè)晶圓芯片的坐標(biāo)信息，并采集網(wǎng)分測(cè)試數(shù)據(jù)，然后發(fā)送相應(yīng)的信號(hào)將測(cè)試結(jié)果反饋給探針臺(tái)。在探針臺(tái)獲取到測(cè)試結(jié)果信息時(shí)，會(huì)自動(dòng)移動(dòng)到下一產(chǎn)品位置，開(kāi)始測(cè)試。

　　通過(guò)NSAT-1000，該公司實(shí)現(xiàn)了從半自動(dòng)化測(cè)試到全自動(dòng)化測(cè)試的轉(zhuǎn)型，批量測(cè)試晶圓芯片，提高了測(cè)試效率。

　　自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)程控探針臺(tái)

　　在此次項(xiàng)目合作過(guò)程中，系統(tǒng)開(kāi)發(fā)的挑戰(zhàn)之一就是實(shí)現(xiàn)與探針臺(tái)的交互通訊。為此，納米軟件技術(shù)人員學(xué)習(xí)并掌握探針臺(tái)的使用以及操作流程，收集并驗(yàn)證其操作指令，然后對(duì)其指令進(jìn)行二次封裝，通過(guò)GPIB線(xiàn)纜完成與探針臺(tái)的完美通訊。測(cè)試系統(tǒng)與探針臺(tái)的交互，包括以下內(nèi)容：
　　1. 系統(tǒng)告知探針臺(tái)流程開(kāi)始
　　2. 系統(tǒng)獲取探針臺(tái)狀態(tài)，判斷是否可以開(kāi)始測(cè)試
　　3. 系統(tǒng)從探針臺(tái)獲取當(dāng)前被測(cè)晶圓芯片的坐標(biāo)
　　4. 系統(tǒng)向探針臺(tái)反饋當(dāng)前產(chǎn)品測(cè)試結(jié)果

　　自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)程控網(wǎng)絡(luò)分析儀
　　在系統(tǒng)中封裝對(duì)應(yīng)網(wǎng)絡(luò)分析儀型號(hào)的操作指令，通過(guò)LAN通訊線(xiàn)纜將其與系統(tǒng)連接。在測(cè)試過(guò)程中，系統(tǒng)會(huì)采集網(wǎng)絡(luò)分析儀上的測(cè)試數(shù)據(jù)，并以Pass、Fail指標(biāo)判斷當(dāng)前被測(cè)產(chǎn)品的結(jié)果。

　　矢網(wǎng)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)區(qū)別于傳統(tǒng)自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，可以適應(yīng)未來(lái)測(cè)試需求的變化，靈活調(diào)整測(cè)試項(xiàng)目，減少了系統(tǒng)維護(hù)成本。更重要的是，系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了數(shù)據(jù)的統(tǒng)一匯總管理，發(fā)揮數(shù)據(jù)有效價(jià)值。關(guān)于NSAT-1000更多詳情可訪(fǎng)問(wèn)：https://www.namisoft.com/solution/spzjcsxt/473.html