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2026深圳國際第三代半導體技術及封測展覽會

發布時間:2025-7-10 09:12    發布者:cwzl
日期:2026-04-09
地點:深圳會展中心
網址:
2026深圳國際第三代半導體技術及封測展覽會
Shenzhen Third Generation Semiconductor Technology and Testing Exhibition
基本信息
時間:2026年49-11
地點:深圳會展中心
展會簡介
    2026深圳第三代半導體技術及封測展覽會將于年49-11日在深圳會展中心舉行,致力于先進半導體器件、封裝測試、工藝流程、創新應用及產業鏈間的合作,為上游及材料設備搭建交流協作的橋梁。隨著第三代半導體器件的日益普及和廣泛應用,為行業帶來了革新;谄涓咚、小體積、低損耗、高功率、高散熱、高集成等方向發展,越來越廣泛應用在消費電子電力電子行業,先進封裝材料、可靠性技術都在不斷的發展提升,車硅級器件不斷上車,目前初步形成從材料、器件、封裝、測試,再到應用的全產業鏈,但整體技術水平還落后世界頂尖水平,亟需突破材料、晶圓、 封測、工藝、應用等環節的核心關鍵技術和可靠性、一致性等工程化應用問題,內容涵蓋第三代半導體器件與封裝技術最新進展,針對SiC/GaN功率器件先進封裝材料及可靠性,SiC/GaN功率器件工藝、器件新型封裝結構材料、燒結銀互連技術、封裝材料可靠性測試、封裝熱管理、熱和機械可靠性仿真設備,了解大功率電力電子器件與封裝的各種挑戰,邀請產學研用資多領域優勢力量、業界知名專家、企業代表分享專題報告,探討最新進展,促進第三代半導體器件與封裝技術發展。
日程安排
報道布展: 202647-8
展覽展示: 202649-11
開幕時間: 202649
撤展時間: 2026411
參展范圍
·第三代半導體封測技術
·SiC功率器件先進封裝材料
·SiC功率器件工藝及技術
·半導體材料、工藝、創新及應用
·新型封裝結構材料、燒結銀互連技術
·封裝材料可靠性測試、封裝熱管理、可靠性仿真設備
聯系我們
聯系人:張先生136-3660-4883(同微信)
郵  箱:sales1@ufiexpo.com

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