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功率半導體器件的設計確保:在開啟(ON)狀態下,它能夠為負載提供大量功率,而自身卻消耗最小的電源功率(高效率);在關閉(OFF)狀態下,它向負載提供的功率幾乎為零,同時自身也消耗最小的電源功率(高效率)(待機電流非常小)。因此,功率半導體器件的特性分析或直流參數測試可以分為兩種:開啟狀態特性分析和關閉狀態特性分析。本應用筆記對這兩種測試應用進行說明,并給出利用多種吉時利數字源表源測量單元(SMU)儀器構建測試系統的實例。 下載:
Multi-SMU Systems AppNote_CN.pdf
(10.86 MB)
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