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美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）近日發布《2012年自動化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術和方法的研究發現。 該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業的發展趨勢，包括消費電子產品、汽車、半導體，航空航天與國防、醫療設備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優化測試組織的最新策略和最佳方式。 2012年趨勢展望報告由5個類別組成： 商業戰略、架構、計算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢： • 測試組織的優化: 各個組織將測試工程視為戰略資產，以在競爭中獲得優勢。 • 設計流程中的測量與仿真：將復雜模型與真實測量結合，提高產品質量，縮短開發時間。 • PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內部總線擁有新的系統拓撲結構，并增強了外部接口功能。 • 移動設備的迅速普及: “智能手機和平板電腦的普及”正改變著測試系統控制和監測的方式。 • 便攜的測量算法：全新工具可實現一次開發測量IP，即可部署至多個不同的處理單元。 《2012年自動化測試趨勢展望》的內容源于學術界和工業界的研究、用戶論壇與調查、商業智能化和用戶顧問委員會的反饋意見。 該報告以數據為基礎，詳細介紹了下一代技術趨勢，以此應對測試測量領域的商業和技術挑戰。 《自動化測試趨勢展望》由NI測試行業領導委員會編寫，NI創立該委員會，旨在促進全球不同行業內數千家客戶分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業領導委員會以促進測試行業領導人之間的交流為目標，鼓勵他們提出商業和技術的獨到見解。 領導委員會的活動內容包括領導人會議、同行互通網絡和技術交流。 請訪問 ni.com/ato/zhs，詳細閱讀2012年《自動化測試趨勢展望》。 |
