半導體C-V測量基礎

發布時間：2011-3-8 14:11 發布者：嵌入式公社

C-V測量為人們提供了有關器件和材料特征的大量信息。

通用測試

電容-電壓（C-V）測試廣泛用于測量半導體參數，尤其是MOSCAP和MOSFET結構。此外，利用C-V測量還可以對其他類型的半導體器件和工藝進行特征分析，包括雙極結型晶體管（BJT）、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機TFT顯示器、光電二極管、碳納米管（CNT）和多種其他半導體器件。

這類測量的基本特征非常適用于各種應用和培訓。大學的研究實驗室和半導體廠商利用這類測量評測新材料、新工藝、新器件和新電路。C-V測量對于產品和良率增強工程師也是極其重要的，他們負責提高工藝和器件的性能。可靠性工程師利用這類測量評估材料供貨，監測工藝參數，分析失效機制。

采用一定的方法、儀器和軟件，可以得到多種半導體器件和材料的參數。從評測外延生長的多晶開始，這些信息在整個生產鏈中都會用到，包括諸如平均摻雜濃度、摻雜分布和載流子壽命等參數。在圓片工藝中，C-V測量可用于分析柵氧厚度、柵氧電荷、游離子（雜質）和界面阱密度。在后續的工藝步驟中也會用到這類測量，例如光刻、刻蝕、清洗、電介質和多晶硅沉積、金屬化等。當在圓片上完全制造出器件之后，在可靠性和基本器件測試過程中可以利用C-V測量對閾值電壓和其他一些參數進行特征分析，對器件性能進行建模。

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半導體C-V測量基礎.pdf (716.65 KB)

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