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作者：特權同學 IO口速度測試，使用以下程序測試高電平脈寬。 while(1) { P0 = 0xf; P0 = 0x0; } 同等條件下與其他MCU比較：
在兩次操作之間插入延時函數，分別延時delay(1)、delay(2)、delay(3)、delay(4)。測試延時函數如下： void delay(uchar cnt) { uchar i =0; while(i < cnt) { i++; } } 由于delay()函數調用一次會有一些額外開銷（如賦初值等），所以我們通過不同延時值的實際延時差來看指令運行的速度。換句話說，對前面的程序，可以通過每次delay()函數的差值來計算每多執行一次i++和一次i 特權同學曾使用相同條件測試了51單片機，通常11.0592MHz下工作的51單片機每多執行一次i++和一次i
簡單的一些性能測試，發現這個51硬核還是有花頭的，至于穩定性和可靠性上還需繼續驗證和嘗試。當然，本文的測試是使用了片內的存儲器作為代碼和數據存儲，實際速度性能和存儲器的性能關系非常大，是需要進一步考核的項目。 | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
